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                產(chǎn)品中心

                當(dāng)前位置:首頁(yè)  -  產(chǎn)品中心  -  光譜儀器  -  太陽(yáng)能電池檢測(cè)儀器(系統(tǒng))

                光束誘導(dǎo)電流成像測(cè)試系統(tǒng)
                產(chǎn)品簡(jiǎn)介

                LBIC光束誘導(dǎo)電流成像測(cè)試系統(tǒng)采用振鏡掃描技術(shù),對(duì)樣品表面做快速掃描。產(chǎn)生的光電流信號(hào)通過(guò)探針引到源表,再顯示
                在軟件界面,用三維圖顯示樣品表面在同一個(gè)光強(qiáng)下電流分布,以此推算樣品的光電轉(zhuǎn)換均勻性和材料的缺陷分布。

                產(chǎn)品型號(hào):LBIC
                更新時(shí)間:2024-05-20
                廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
                訪問(wèn)量:3380
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                LBIC光束誘導(dǎo)電流成像測(cè)試系統(tǒng)采用振鏡掃描技術(shù),對(duì)樣品表面做快速掃描。產(chǎn)生的光電流信號(hào)通過(guò)探針引到源表,再顯示在軟件界面,用三維圖顯示樣品表面在同一個(gè)光強(qiáng)下電流分布,以此推算樣品的光電轉(zhuǎn)換均勻性和材料的缺陷分布。光束誘導(dǎo)電流成像系統(tǒng)是用于檢測(cè)材料光電流強(qiáng)度分布的專用設(shè)備,主要用來(lái)測(cè)量光電材料的光電響應(yīng)信號(hào)和表征材料的光電特征。光束誘導(dǎo)電流成像系統(tǒng)將光電材料對(duì)于光信號(hào)響應(yīng)的不均勻性以可視化和量化的方式顯示出來(lái)。該系統(tǒng)可以研究光電探測(cè)器的量子效率,器件的電阻分布特征,研究太陽(yáng)能電池光生電流的不均勻性,研究器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性,以及光電材料界面,半導(dǎo)體結(jié)區(qū)的品質(zhì)分布等。整個(gè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)包含光源(激光器或者連續(xù)光源),顯微鏡,掃描振鏡,數(shù)字源表,探針臺(tái)和計(jì)算機(jī)軟件等。激光通過(guò)掃描透鏡,掃描振鏡,成像透鏡,經(jīng)過(guò)顯微鏡聚焦到樣品表面,激光激發(fā)樣品產(chǎn)生光電流,光電流信號(hào)通過(guò)探針引出至源表,再通過(guò)電腦在軟件中讀出,掃描時(shí)振鏡是通過(guò)電壓控制器控制光束的偏轉(zhuǎn)角度,激光的光斑在樣品的 XY 方向上掃描移動(dòng),軟件記錄每一個(gè)激光聚焦光斑的位置和其對(duì)應(yīng)的電流值,在軟件上同步描繪出光電流成像圖,顯示樣品的電流分布。


                LBIC光束誘導(dǎo)電流成像測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn):

                ● 多路激光波長(zhǎng)可選 

                ● 樣品位置二維可調(diào),實(shí)現(xiàn)快速換樣 

                ● 整體探針位置二維可以移動(dòng),方便測(cè)試樣品的不同位置 

                ● 樣品在靜止情況下實(shí)現(xiàn)mapping掃描,消除電移臺(tái)的震動(dòng)的影響 

                ● 可視化和人性化軟件(測(cè)試區(qū)間位置通過(guò)框圖的方式選取,實(shí)現(xiàn)了可視范圍即掃描范圍)


                應(yīng)用領(lǐng)域 

                ● 納米材料 

                ● 二維材料 

                ● 晶圓分析 

                ● 探測(cè)器光電性能檢測(cè) 

                ● 面陣探測(cè)器pixel檢測(cè) 

                ● 器件電荷生成的微區(qū)特性



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