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                產(chǎn)品中心

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                拉曼/熒光/光電流綜合測試系統(tǒng) STS系列
                產(chǎn)品簡介

                拉曼/熒光/光電流綜合測試系統(tǒng) STS系列,基于RTS-mini顯微系統(tǒng)而搭建,集成拉曼/熒光/光電流原位測試功能,配合高精度微米電動位移臺,實現(xiàn)Raman/PL Mapping及激光誘導(dǎo)光電流成像。深度表征材料內(nèi)部分子振動能級與轉(zhuǎn)動能級結(jié)構(gòu)信息,光生載流子的生成與復(fù)合機(jī)制,器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性,光電材料界面及半導(dǎo)體結(jié)區(qū)的品質(zhì)分布等。

                產(chǎn)品型號:
                更新時間:2025-04-02
                廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
                訪問量:1819
                詳細(xì)介紹在線留言

                拉曼/熒光/光電流綜合測試系統(tǒng) STS系列

                產(chǎn)品概述

                基于RTS-mini顯微系統(tǒng)而搭建,集成拉曼/熒光/光電流原位測試功能。該系統(tǒng)可原位探測拉曼、熒光及光電流信號。配合高精度微米電動位移臺,實現(xiàn)Raman Mapping,PL Mapping以及激光誘導(dǎo)光電流成像(LBIC)。深度表征材料內(nèi)部的分子振動能級與轉(zhuǎn)動能級結(jié)構(gòu)信息,光生載流子的生成與復(fù)合機(jī)制,器件吸收和電荷生成的微區(qū)特性,光電材料界面以及半導(dǎo)體結(jié)區(qū)的品質(zhì)分布等特性。

                拉曼/熒光/光電流綜合測試系統(tǒng) STS系列

                拉曼/熒光/光電流綜合測試系統(tǒng) STS系列技術(shù)參數(shù)

                拉曼/拉曼Mapping

                拉曼頻移范圍

                60-6000cm-1 @532nm激光器

                共焦方式

                光纖共聚焦

                高靈敏度

                硅三階拉曼峰的信噪比好于20:1,并能觀察到四階峰

                空間分辨率

                ≤1μm@100X物鏡,NA0.9,532nm單縱模激光器

                光譜CCD探測器

                分辨率≥2000x256

                量子效率在700nm-870nm區(qū)間處>90%,

                光譜范圍:200 ~ 1100 nm

                熒光/熒光壽命成像

                光譜掃描范圍

                200-900nm

                最小時間分辨率

                16ps

                熒光壽命測量范圍

                500ps-10μs

                空間分辨率

                ≤1μm@100X物鏡@405nm皮秒脈沖激光器

                光電流/光電流成像

                激光器(光源)

                標(biāo)配532nm激光器,能量穩(wěn)定性1%@4小時

                可選配2路激光器用于光電流測試

                數(shù)據(jù)采集

                電流源表:Keithley 2450

                測量范圍:1nA – 1A

                暗噪聲:50pA

                分辨率:20fA

                準(zhǔn)確度: 0.03%

                探針臺

                直徑65mm真空吸附卡盤

                探針座和樣品整體二維移動,方便樣品位置與光斑位置重合

                樣品位置單獨(dú)二維移動,方便同類樣品更換

                樣品位置移動行程25mm,分辨率5μm

                探針座:XYZ行程12mm,分辨率0.7μm

                探針:鎢針,直徑5μm,10μm,20μm可選

                測試功能

                光電流掃描(Mapping):可以設(shè)定固定的電壓,逐點(diǎn)獲取電流值

                I-V曲線掃描(Mapping):可以設(shè)定*定的電壓區(qū)間,逐點(diǎn)獲取I-V曲線




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